德國Kammrath & Weiss GmbH／彎曲測試模組

在載荷下對表面變化的靜態或動態觀察、裂紋擴展、分層現象、滑移區形成。彎曲模組可適用於大多數掃描電子顯微鏡。

產品特色

彎曲測試模式：通常採用3點彎曲或4點彎曲配置，負荷精準控制，位移速率連續可調（範圍 0.1–20 µm/s 或 0.2–20 µm/s）。

相容性強：設計為模組化，可安裝在大多數 SEM 的樣品台上，像放置大型樣品一樣簡單。

高精度與控制：內建高精度驅動（步進馬達或 piezo 輔助），負荷容量依型號從數十 N 到 200 N，適合微結構到中型試樣。