德國Zeiss／3D非接觸影像DIC分析系統－ARAMIS 1

ZEISS ARAMIS 1 是進入光學DIC應變、位移和變形測量領域的入門級系統。該系統可以對材料試件和小型零件的變形行為進行詳細分析。500萬畫素解析度，對於小型試件具有足夠的精度，提供整套系統解決方案，絕對是高C/P值首選。

產品特色

▪ 全感測器解析度下 50 fps 的擷取速率
▪ 移動性強且穩定性高的硬體
▪ 可與光學探針相容量測
▪ 由德國ZEISS精心設計與製造
▪ 性能通過VDI高標準認證