德國Kammrath & Weiss GmbH／微動平台

半導體電學測試結合顯微鏡輔助，無論在品質控制還是研究領域都不可或缺。特別是「IC測試」領域，不僅要求最高的機械精度，還需要全新儀器來支援品質控制與研究。

產品特色

量測精確：探針系統對IC結構進行電氣測量、電位對比及缺陷偵測。

軟體控制：支援高低溫實驗選項，讓探針在極端溫度下測試。