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DIL 402 Expedis Classic 熱膨脹分析儀

Netzsch新款熱膨脹分析儀 DIL 402 Expedis Classic 融合了熱膨脹測量領域的尖端技術,為廣泛應用領域內的專業級應用而生。DIL Expedis 系列的所有型號均採用先進的 NanoEye 測量系統,在測量範圍與精確度兩方面達到了更頂端的標準。
    • NanoEye

    對於傳統的熱膨脹儀,測試量程與解析度這兩個參數很難兩全:高解析度只能在很小的量程中實現;如果要得到較大量程,只能犧牲一定的解析度。新型自回饋光電位移測量系統 NanoEye 克服了這一技術上的矛盾,能夠同時提供高的解析度、完美的線性度與寬廣的量程。
     
    • 一體化設計,使用壽命長

    DIL 402 Expedis Classic 既可配備為單樣品系統,也可配備為雙樣品/差示系統。儀器為一體化設計,兩個版本的主機均已集成了精確測量熱膨脹所需的所有硬體。既沒有多餘的外部電纜,也不需要額外的冷卻水浴。

    儀器的 MultiTouch 功能能夠利用獨特的尾式頂樣操作獲得最正確的置樣效果。在預設定的接觸力下,可對樣品的初始長度進行自動測量。爐體的閉合具有緩衝效果,從而保證了樣品位置的穩定。

    精確的接觸力控制使得操作者能夠測試小樣品、精細、脆性樣品或是泡沫樣品,而保證樣品不受破壞,或發生不可重複的形變,以及在整個測試過程中保持接觸壓力的一致性。